LED(Light-Emitting-Diode )以其高光效、低功耗的绿色节能优越性,成为新时期下的主流光源。目前LED主要依赖于引线键合(Wire-Bonding)的方式将芯片电极与基板互连实现电气连接,而键合线往往在冷热冲击试验过程中出现断裂问题,导致LED死灯失效,严重影响了LED的可靠性。本文针对这一问题,通过有限元数值分析,通过加载周期性的温度载荷模拟LED键合线在冷热冲击下受到的热载荷,分析了LED键合线在该热载荷条件下的应力分布情况,并探讨了不同引线线弧模式对键合线热应力的影响,为LED引线键合的工艺优化提供了参考。
序言
LED是一种直接将电能转化为光能的半导体光源,具有节能、环保、安全、寿命长、低功耗等特点,广泛应用于指示、显示、装饰、背光源、普通照明等领域[1]。其芯片与基板之间通常采用引线键合进行电气连接,即通过热、压力、超声波等能量使金属引线与被焊焊盘发生原子间扩散互溶,实现芯片电极-键合线-基板彼此之间的键合连接。
在LED的生产制造中,为了解、评价、分析和提高LED的环境适应性,常对LED进行相关可靠性试验[2],冷热冲击试验即为其中一种。该实验通过对LED施加周期性瞬变的冷热温度循环,试验其所能承受的因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。在该试验中,LED键合线常成为其中的薄弱部位,其在试验中的断线与否对LED可靠性起着关键性作用。
为了了解LED键合线在冷热冲击试验下的断裂机理,本文从材料的热应力基础理论出发,构建冷热冲击条件下的LED键合线模型,并通过有限元数值模拟对键合线的热应力进行计算分析,进而确认键合线热应力分布情况及影响热应力的相关参数。
1 热应力基础理论
热应力又称温变应力。产生热应力的必要条件是存在温差,当温差引起的结构形变受到约束时即可产生热应力。约束有三种形式,即外部刚性约束、内部各部分之间变形约束以及不同材料之间的相互变形约束。对于LED而言,冷热冲击条件下,LED受到周期性的热胀冷缩,各材料之间热膨胀系数不同又相互约束,因此在各材料界面,极易产生应力集中。
根据线性热应力理论,微元体的总应变由两部分组成:一部分由温度变化引起,另一部分由应力引起,即:
根据传热学原理,一维等截面杆由温度产生的结构形变(即热应变εT)为:
其中,αT-材料线膨胀系数,T-温差,l-一维方向初始长度,
l-长度变化。
对于各向同性的三维结构,以上应变在各个方向均相同,但并不产生剪应变,即存在:
因此,平面结构(即εzT=0时)的热应变为:
而弹性应变是由应力引起的:
所以在存在热应变的情况下,结构物理方程为:
式中,D-计算平面应力问题的弹性矩阵,B-应变矩阵。根据弹性力学公式:
写成矩阵形式写成:
这里的kEe和Fe是平面应力问题中的单元刚度矩阵和节点力矩阵。
式中RTe是由于温度变化而增加的单元变温等效节点载荷矩阵。
通过求解温度方程求出各个节点的温度值以后,就可以求出温度载荷,式中单元的温升可以取各个节点的温升的平均值T,即:
式中Ti、Tj、Tm—计算出的节点温度;
To—结构的初始温度
将求解域中所有单元的变温等效节点载荷叠加后,形成整个结构的温度载荷阵列,即:
RT=e=1nRTe
最后,将得到的温度变化RT视为一种温度载荷,并形成温度载荷列阵后,就可以按与静力分析相同的方法求解热变形,则求解热变形的刚度方程为:
Kq=RT
解上式可以求出结构的热变形q,进而能求出相应的热应力。
在冷热冲击过程中,由于LED封装体各部分组件材料的热膨胀系数不同,将产生周期性的膨胀与收缩。键合线会受到不同程度的剪切和拉伸,在键合线三维结构中应力呈多轴状态分布,因而在分析键合线在冷热冲击温度循环条件下的力学行为时,采用表示综合应力强度的等效应力来描述键合线的应力分布状态。
基于第四强度理论 Von Mises准则,等效应力用应力张量的分量表示为:
σ=22σx-σy2+σy-σz2+σx-σz2+6τxy2+τyz2+τxz212
式中σ—等效应力(Pa);
σx—X 方向正应力(Pa);
σy—Y 方向正应力(Pa);
σz—Z 方向正应力(Pa);
τxy—垂直于 X 轴平面的 Y 方向剪应力(Pa);
τyz—垂直于 Y 轴平面的 Z 方向剪应力(Pa);
τxz—垂直于 X 轴平面的 Z 方向剪应力(Pa)
由上述分析可知,对于LED而言,环境温度温差越大、封装材料之间的热膨胀系数相差越大、材料的弹性模量越大,LED受到热应力越大,随着时间增加,材料界面应力集中容易产生疲劳断裂。
当赋予LED各封装材料以热力学属性,施加材料的热边界条件,即可由以上各公式对LED三维模型的等效热应力进行分析求解,便可得出热载荷条件下LED各封装材料各位置的等效应力情况。其中,分析求解过程可通过有限元数值模拟求解实现[3-5]。
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